乱した試料の英語

励起光や読取光をソースモジュールから試料へと伝達し、次いで、発した光や散乱した光を試料から検出モジュールへと伝達するために二股光ケーブルが使用される。例文帳に追加

A bifurcated optical cable is used to transfer the excitation and/or readout light from the source module to the sample and subsequently transfer the emitted and/or scattered light from the sample to the detection module. - 特許庁

散乱した電子は、異なる磁化の領域間に別個のコントラストを示す試料のイメージデータを形成するために検出される。例文帳に追加

Scattered electrons are detected to form the image data of the sample for showing separate contrast between regions with different magnetizations. - 特許庁

試料から散乱した散乱イオン強度を入射イオン種のスピン別に計測し、その計測データにより試料表面の磁気構造を解析する。例文帳に追加

The intensity of the scattered ions from a sample is measured by the spin of an incident ion species and the surface magnetic structure of the sample is analyzed on the basis of the measuring data. - 特許庁

形状測定用の半導体レーザから出射した光の一部が散乱し、感光性を有する試料の表面に照射されて試料表面が感光されてしまうのを防止する。例文帳に追加

To prevent exposure of the sample surface caused by scattering of a part of light emitted from a semiconductor laser for shape measurement, and by irradiation of the surface of a sample having photosensitivity. - 特許庁

ホルダー板１２の表面のうち、試料１から散乱したイオン等が衝突し易い、試料１との対向面を絶縁性薄膜１３で被覆する。例文帳に追加

An opposite face to the sample 1 with which ions or the like scattered from the sample easily collide on the surface of a holder plate is coated with an insulating thin film 13. - 特許庁

この励起光反射体５６は、試料収容空間を外側から囲み、この試料収容空間から散乱しようとする励起光を反射させて同空間内に再入射する。例文帳に追加

The excitation light reflector 56 encloses a sample storing space from the outside, reflects the excitation light to be scattered from the sample storing space, and allows the excitation light to re-enter the space. - 特許庁

試料をＸ線解析する方法は、試料の表面上の周期構造の領域に衝突するようにＸ線ビームを方向付け、方位角の関数として散乱Ｘ線の回折スペクトルを検出するように反射モードで表面から散乱したＸ線を受け取ることを含む。例文帳に追加

The method for X-ray analysis of the sample includes directing of a beam of X-rays to impinge on an area of the periodic feature on the surface of the sample, and receiving the X-rays scattered from the surface in a reflection mode so as to detect a diffraction spectrum in the scattered X-rays as a function of the azimuth. - 特許庁

スピン偏極イオンを発生させるスピン偏極イオン発生部と、前記スピン偏極イオン発生部からのスピン偏極イオンを所望のエネルギーで試料表面に入射させるスピン偏極イオンビームラインと、試料を保持する真空槽と、前記真空槽内に位置して、前記試料に照射されて散乱したスピン偏極イオンを計測する計測器よりなる。例文帳に追加

The magnetic structure analyzer is composed of a spin polarized ion producing part for producing spin polarized ions, a spin polarized ion beam line for throwing the spin polarized ions from the spin polarized ion producing part on the surface of the sample by desired energy, a vacuum tank for holding the sample and the measuring instrument positioned in the vacuum tank to measure the spin polarized ions scattered by the irradiation of the sample. - 特許庁