内蔵試験装置の英語

内蔵試験機能を有する半導体装置の内蔵試験機能自体の不良による過剰な不良判定を防止する。例文帳に追加

To prevent excessive defect determination from being caused by a defect of a testing device itself built in a semiconductor device having a built-in testing function. - 特許庁

制御装置７には「通常」／［テスト］の切替回路１３、試験用の模擬信号発生器などの試験装置７１が内蔵される。例文帳に追加

In the controller 7, a "normal"/"test" switching circuit 13 and a test apparatus 71 such as a simulation signal generator for a test are incorporated. - 特許庁

試験用電話機２０にレピータ装置の機能（６Ｗ／２Ｗ変換回路３２）が内蔵されているので、効率的な試験が可能となる。例文帳に追加

Since the function (6W/2W conversion circuit 32) of the repeater system is incorporated in the test telephone set 20, an efficient test is made possible. - 特許庁

ＩＣ試験装置において内蔵されている回路を用いてタイミングキャリブレーションをすること。例文帳に追加

To conduct timing calibration using a built-in circuit, in an IC testing device. - 特許庁

境界走査試験インタフェース中の内蔵データアクセス装置及び方法例文帳に追加

BUILT-IN DATA ACCESS DEVICE AND METHOD IN BOUNDARY SCANNING TEST INTERFACE - 特許庁

境界走査試験インタフェース中の内蔵データ伝送装置及び方法の提供。例文帳に追加

To provide a built-in data transmitting device and method in a boundary scanning test interface. - 特許庁

境界走査試験インタフェース中の内蔵データアクセス装置及び方法の提供。例文帳に追加

To provide a built-in data access device and method in a boundary scanning test interface. - 特許庁

試験用ＣＰＵ１６１は、ＲＯＭおよびＲＡＭを内蔵したＣＰＵであって、遊技機外部に接続される試験装置等に供給するための試験信号を作成する。例文帳に追加

A testing CPU 161 is a CPU for internally storing a ROM and a RAM, and makes a test signal to be supplied to a testing device connected to an external part of a game machine. - 特許庁