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故障箇所の特定の英語
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「故障箇所の特定」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 177件
半導体装置の故障箇所特定システム及び故障箇所特定方法例文帳に追加
SYSTEM AND METHOD FOR SPECIFYING FAULT LOCATION OF SEMICONDUCTOR DEVICE - 特許庁
故障箇所診断システム、故障箇所特定方法および診断対象の装置例文帳に追加
FAULT LOCATION DIAGNOSIS SYSTEM, FAULT LOCATION IDENTIFICATION METHOD AND APPARATUS TO BE DIAGNOSED - 特許庁
この方法によれば、単一縮退故障以外の故障モードについても故障モードの判定及び故障箇所の特定が可能となる。例文帳に追加
Determination of the failure mode and specification of a failure spot become possible relative to the failure mode other than the single stuck-at fault by this method. - 特許庁
本発明は複数の故障診断情報から真の故障箇所を特定することを課題とする。例文帳に追加
To identify a true failure location from multiple failure diagnosis information. - 特許庁
故障箇所特定装置7は、論理関係抽出装置3およびデータフロー監視装置5の処理結果に基づいて、故障箇所を特定する。例文帳に追加
A failure spot is determined by a failure spot determiner 7 based on processing results of the relation drawer 3 and the flow monitor 5. - 特許庁
半導体デバイスの故障箇所特定方法及びその装置例文帳に追加
METHOD AND APPARATUS FOR SPECIFYING FAULT POSITION OF SEMICONDUCTOR DEVICE - 特許庁
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「故障箇所の特定」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 177件
故障箇所の特定が容易な半導体記憶装置を提供する。例文帳に追加
To provide a semiconductor memory device which facilitates identifying a failure spot. - 特許庁
またその検査を繰り返して断線故障発生箇所を特定する。例文帳に追加
A disconnection failure generation spot is specified by repeating the inspection. - 特許庁
情報処理システム、その故障箇所特定方法、情報処理装置例文帳に追加
INFORMATION PROCESSING SYSTEM, ITS DEFECTIVE LOCATION SPECIFYING METHOD AND INFORMATION PROCESSOR - 特許庁
故障箇所特定のために多くの時間を必要とせず、且つ故障箇所の絞込みの精度を上げることができるスキャンテスト回路を提供する。例文帳に追加
To provide a scan test circuit capable of improving precision in narrowing the faulty location without needing much time for specifying the faulty position. - 特許庁
一方、完全一致しない場合、故障推定箇所内の多段ゲートを有するセル内部を故障箇所に特定する。例文帳に追加
When not completely coincident, the interior of a cell having multistage gates in the failure estimated part is specified as the failure part. - 特許庁
それにより、通常モードから自己診断モードへ切り替え、自己診断モード時の故障箇所特定論理表を利用して、故障箇所を確認する。例文帳に追加
Thereby, the normal mode is switched to a self-diagnosis mode, and the fault location is confirmed by using the fault location specification logical table in the self-diagnosis mode. - 特許庁
本発明は、半導体素子の故障解析方法及び故障解析装置に係り、故障箇所を位置精度よく特定して解析することにある。例文帳に追加
To provide a failure analysis method of a semiconductor element and a failure analysis device that locate a failure portion with a high positioning accuracy and analyze the failure portion. - 特許庁
故障箇所の特定に必要な情報の全ては得られていない状況や、協調システムがどのようなシステム構成であっても、故障箇所の特定につながる適切な情報を提示できる故障箇所特定システム等を提供する。例文帳に追加
To provide a failure spot determining system, etc. for presenting appropriate information leading to the determination of a failure spot even in a situation where all of information necessary to determine the failure spot is not acquired or whatever system structure is given to a harmonizing system. - 特許庁
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