返し針の英語

前後一方の針床（ＦＤ）に折り返しの境界を有するＣ字状編成を行う。例文帳に追加

C-shaped knitting is performed with a return limit on one of front and rear needle beds (FD). - 特許庁

見返し板１０は指針の基端部と相対する基端部保護部１３を一体に備えている。例文帳に追加

The end sheet plate 10 is provided with a base edge protection part 13 that opposes the base edge part of the electronic clock hand in one piece. - 特許庁

針先をＵ字型に折り返し、その針先が内側になるように全体を環状にして、他端部に溝のある滑車を設けた止め具である。例文帳に追加

In the fixing tool, a needle point is turned up in a U shape to keep the whole annular so that the needle point may be located inside, and a grooved pulley is formed in the other end part. - 特許庁

通常針振りパターンから終わり止め縫いパターンに移行するするとき、通常の針振りパターンが途中Ｐ’で終了しても、止め縫いは針振りパターンの折り返し針位置Ｐから開始するようにする。例文帳に追加

When shifting from normal zigzag pattern to the ending stop sewing pattern, even if the normal zigzag pattern is ended in the midway P', stop sewing is started at the turn-back needle position P of the zigzag pattern. - 特許庁

処理部が、次の繰り返し処理における探針の変位の初期値及び探針の速度の初期値をそれぞれ、求められた探針の変位及び探針の速度の最終時刻での値に設定する（Ｓ２１１）。例文帳に追加

The processing part sets an initial value of the displacement of the probe and an initial value of the speed of the probe in the next repetition processing, respectively as values in the final time of the displacement of the probe and the speed of the probe (S211). - 特許庁

第２指針の回転中心の前方側の周辺を覆い隠す従来の見返し板を配置することに代えて第１指針の回転中心と第２指針の回転中心とを共通のつば部にて覆い隠す構成とした。例文帳に追加

This meter has a constitution wherein a rotation center of the first pointer and a rotation center of the second pointer are hidden by a common collar part instead of arrangement of a conventional facing plate for hiding the periphery of the front side of the rotation center of the second pointer. - 特許庁

注射針１６は針本体３０と、ハブ３２と、該ハブ３２の先端に設けられた小円形のストッパフランジ３４と、針本体３０の側面に設けられた返し部材３６とを有する。例文帳に追加

The injection needle 16 includes a needle boy 20, a hub 32, a small circular stopper flange 34 set on the tip end of the hub 32, and a return member 36 set on a side face of the needle body 30. - 特許庁

プローブ針の端子部を繰り返しパッドに押し当ててもプローブ針が変形しにくく、端子部の高さずれや位置ずれなどを抑制できるプローブ針と、これを備えた半導体装置の検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide a probe which can resist deformation even when the terminal of the probe is repetitively pressed to a pad and suppress the displacement of a terminal in height and position, and to provide a semiconductor inspection device having this probe. - 特許庁