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characteristics to be inspectedとは 意味・読み方・使い方
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「characteristics to be inspected」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 78件
During the transportation, the images and characteristics of the electronic apparatus 11 to be inspected are inspected and calculated and transmitted to the adjustment/sorting side in the market through the Internet.例文帳に追加
この際中、インターネットを通じて市場で、検査電子装置１１の画像及び特性を検査計算して、調整選別側に送信している。 - 特許庁
To provide a technique for performing inspection, through the use of characteristics of light transmitted through an object to be inspected.例文帳に追加
検査対象物の透過光の特性を利用して検査を行う技術を提供する。 - 特許庁
To provide a semiconductor device exhibiting excellent packaging properties in which electric characteristics can be inspected easily.例文帳に追加
電気特性検査が容易で、かつ、実装性に優れた半導体装置を提供することにある。 - 特許庁
To actualize a higher magnification, a higher resolution and a real-time property of an SEM image without influencing electric characteristics of an object to be inspected when measuring electric characteristics of the object to be inspected.例文帳に追加
検査対象の電気特性を測定する場合に、検査対象の電気特性に影響を与えることなく、ＳＥＭ画像の高倍率化、高分解能化及びリアルタイム性を実現する。 - 特許庁
A hardness index is obtained on the basis of integral values of the characteristics of first and second surfaces of the reed to be inspected, and of integral values of the characteristics of first and second surfaces of the standard reed.例文帳に追加
検査対象のリードの表裏の特性の積分値と、標準品のリードの表裏の特性の積分値に基いて固さ指標を得る。 - 特許庁
A characteristics extraction part 2 creates data acquired by extracting the amount of characteristics of the object to be inspected from a measurement signal of a signal input part 1.例文帳に追加
特徴抽出部２は、信号入力部１の測定信号から検査対象の特徴量を抽出したデータを作成する。 - 特許庁
As a result, the characteristics of the image to be inspected are reflected on the reference image to be used for comparison inspection so that the accurate inspection of the pattern can be realized, regardless of the materials of the pattern or the kind of a process for the object to be inspected.例文帳に追加
その結果、比較検査に用いる参照画像は被検査画像の特徴を反映しているため、検査対象物についてパターンの材料、プロセスの種類に関わらず、パターンの正確な検査が行える。 - 特許庁
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「characteristics to be inspected」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 78件
A wavefront correcting system 1 finds the optical characteristics of an eye to be inspected by measuring the wave-front measurement data containing the wavefront aberration and/or aberration to be corrected of the eye to be inspected.例文帳に追加
波面補正系１は、被検眼の波面収差及び／又は補正される収差を含む波面測定データを測定し、被検眼の光学特性を求める。 - 特許庁
To allow a plurality of semiconductor elements to be individually inspected about electrical characteristics thereof and defectives to be repaired, if any.例文帳に追加
複数の半導体素子の電気的特性を個別に検査できず、また不良品があった場合にリペアが非常に難しい。 - 特許庁
A blue color filter substrate 20 having transmission spectral characteristics almost identical to the blue-colored pixel 13 of a color filter substrate to be inspected 10 is provided between a white surface light source lamp 1 and the color filter substrate to be inspected 10.例文帳に追加
白色光源ランプ１と被検査カラーフィルタ基板１０との間に、被検査カラーフィルタ基板１０の青色着色画素１３とほぼ同一の透過スペクトル特性を有する青色フィルタ基板２０を備えた。 - 特許庁
To provide an inspection apparatus capable of obtaining accurate optical characteristics of a lens to be inspected, by measuring the lateral magnification.例文帳に追加
横倍率を測定することにより、被検レンズの正確な光学特性を得ることができる検査装置を提供する。 - 特許庁
To provide an inspection method for a probe that confirms the state of the probe for inspecting electric characteristics of a body to be inspected, and a curing resin composition used therefor.例文帳に追加
被検査体の電気的特性を検査するプローブの状態を確認するプローブ検査方法とそれに用いる硬化性樹脂組成物の提供。 - 特許庁
To provide an inspection apparatus for accurately detecting defects on the surface of an object to be inspected even if the spectral characteristics of illumination light change.例文帳に追加
照明光の分光特性が変化しても、被検物体の表面の欠陥を正確に検出できる検査装置を提供する。 - 特許庁
The coating film 2 is picked up by a plurality of image pickup devices, whose characteristics are different each other, as illuminating light including ultraviolet rays is applied to the coating film 2 to be inspected.例文帳に追加
紫外線を含む照明光を被検査対象である塗膜２に照射しながら、複数の特性の異なる撮像装置で撮像する。 - 特許庁
To provide a polarization characteristic measuring apparatus for measuring the polarization characteristics of an optical system to be inspected, in accordance with a simplified structure.例文帳に追加
簡素な構成にしたがって被検光学系の偏光特性を計測することのできる偏光特性計測装置。 - 特許庁
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