กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนชนิดส่องกราด

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEM) (อังกฤษ: scanning electron microscope) ประดิษฐ์ขึ้นครั้งแรกเมื่อปี พ.ศ. 2481 โดยเอม วอง เอนเดนนี ใช้ศึกษาโครงสร้างภายนอกของวัตถุ ลักษณะผิวภายนอกของเซลล์ ผิวโลหะ มองเห็นความลึกภาพปรากฏบนจอคอมพิวเตอร์เป็นภาพ 3 มิติ มีกำลังขยายสูงหลายหมื่นเท่า