Перегляд вихідного коду сторінки Електронний мікроскоп

[[Файл:Elektronenmikroskop.jpg|thumb|[[Трансмісійний електронний мікроскоп]]]]

'''Електронний мікроскоп'''&nbsp;— [[прилад]] для отримання збільшеного [[зображення]] мікроскопічних предметів, в якому використовуються [[Електронний промінь|пучки]] [[електрон]]ів. Електронні мікроскопи мають більшу роздільну здатність у порівнянні з [[оптичний мікроскоп|оптичними мікроскопами]], окрім того вони можуть застосовуватися також для отримання додаткової інформації щодо матеріалу й структури об'єкта.

Перший електронний мікроскоп був збудований в [[1931]] році німецькими інженерами [[Ернст Руска|Ернестом Рускою]] і [[Макс Кноль|Максом Кнолем]]. Ернест Руска отримав за це відкриття [[Нобелівська премія з фізики|Нобелівську премію з фізики]] в [[1986]] році. Він розділив її з винахідниками [[тунельний мікроскоп|тунельного мікроскопу]], оскільки Нобелівський комітет відчував, що винахідників електронного мікроскопу несправедливо забули.

== Принцип дії ==
В електронному мікроскопі для отримання зображення використовуються фокусовані пучки електронів, якими "бомбардується" поверхня досліджуваного об'єкта. Зображення можна спостерігати різними способами&nbsp;— в променях, які пройшли через об'єкт, у відбитих променях, реєструючи [[вторинні електрони]] або [[рентгенівське випромінювання]]. Фокусування пучка електронів відбувається за допомогою спеціальних [[електронна лінза|електронних лінз]].

Електронні мікроскопи можуть збільшувати зображення у 2&nbsp;млн разів. Висока [[Роздільна здатність (оптика)|роздільна здатність]] електронних мікроскопів досягається завдяки малій [[довжина хвилі|довжині хвилі]] електрона.

== Будова ==
[[Файл:Electron microscope.svg|thumb|Схематична будова електронного мікроскопа:<ol>
<li>стійка</li>
<li>джерело електронів</li>
<li>електрони</li>
<li>катод</li>
<li>анод</li>
<li>оптична лінза</li>
<li>зразок</li>
<li>дифракційний об'єктив</li>
<li>проєкційний об'єктив</li>
<li>детектор</ol>]]

Будову електронного мікроскопа можна розглянути на прикладі приладу, який працює на пропускання. Монохроматичний пучок електронів формується в [[електронна гармата|електронній гарматі]]. Його характеристики покращуються конденсорною системою, яка складається з конденсорної діафрагми і електронних лінз. В залежності від типу лінз, [[магнітна лінза|магнітних]] чи [[електростатична лінза|електростатичних]], розрізнять магнітні й електростатичні мікроскопи. Надалі пучок потрапляє на предмет, розсіюючись на ньому. Розсіяний пучок проходить через апертуру і потрапляє в об'єктивну лінзу, яка призначена для розтягування зображення. Розтягнутий пучок електронів викликає світіння [[люмінофор]]а на екрані. В сучасних мікроскопах використовуються кілька ступенів збільшення.

Апертурна діафрагма об'єктива електронного мікроскопа дуже мала, складає соті долі міліметра.

Якщо пучок електронів від об'єкта потрапляє безпосередньо на екран, то об'єкт виглядатиме на ньому темним, а навколо утворюватиметься світлий фон. Таке зображення називається ''[[світлопольна мікроскопія|світлопольним]]''. Якщо ж в апертуру об'єктивної лінзи потрапляє не основний пучок, а розсіяний, то утворюється ''[[темнопольна мікроскопія|темнопольне]]'' зображення. Темнопольне зображення контрастніше, ніж світлопольне, але роздільна здатність у нього менша.

== Типи електронних мікроскопів ==
Існує багато різних типів і конструкцій електронних мікроскопів. Основними серед них є:
# [[Трансмісійний електронний мікроскоп|Просвічувальний, або трансмісійний електронний мікроскоп]]&nbsp;— прилад, в якому електронний [[Електронний промінь|електронний пучок]] просвічує предмет наскрізь.
# [[Сканувальний електронний мікроскоп]] використовує для дослідження поверхні об'єкта, вибиті електронним пучком вторинні електрони.
# Сканувальний просвічувальний електронний мікроскоп дозволяє вивчати окремі ділянки об'єкта.{{джерело}}
# [[Рефлекторний електронний мікроскоп]] використовує пружно-розсіяні електрони.

Електронний мікроскоп можна, також, спорядити системою детектування рентгенівських променів, які випромінюють сильно збуджені, при зіткненні з високоенергетичними електронами, атоми речовини. При вибиванні електрона з [[електронна оболонка|внутрішніх електронних оболонок]], утворюється характеристичне рентгенівське випромінювання, досліджуючи яке можна встановити хімічний склад матеріалу.

Вивчення [[спектр енергетичних втрат електронів|спектру непружно розсіяних електронів]] дозволяє отримувати інформацію про характерні електронні збудження в матеріалі досліджуваного предмету.

== Застосування ==
Електронні мікроскопи широко використовуються в [[фізика|фізиці]], [[матеріалознавство|матеріалознавстві]], [[біологія|біології]].

== Галерея ==
{{gallery
|Файл:Apoptosis.jpg|Ультраструктура неонатального [[кардіоміоцит]]а [[Культура_клітин|в культурі]] після [[Аноксія|аноксії]]-реоксигенації, який закінчує життя самогубством (апоптоз). Електронна мікроскопія здійснена на мікроскопі Jeol 100 CX. Збільшення 8000.
}}

== Див. також ==
* [[Мікроскоп]]
* [[Мікроскопія]]
* [[Мікроскопічний аналіз]]
* [[Мікрофотографія]]

== Джерела ==
* {{cite book
|автор=Білий М.У.
|назва=Атомна фізика
|дата=
|рік=1973
|видавництво=Вища школа
|знаходження=Київ}}
* {{книга
|автор        = Біленко І. І.
|заголовок    = Фізичний словник
|рік          = 1979
|видавництво  = Вища школа
|місто        = {{Comment|К.|Київ}}
|сторінок     = 336
}}
{{Електронно-променеві прилади}}
{{physics-stub}}

[[Категорія:Електронна мікроскопія]]